當前位置:首頁 > 產品中心 > 牛津儀器 Oxford > 膜厚測試儀 > X-Strata920廠商銷售膜厚測試儀
簡要描述:鍍層測厚儀X-Strata920系列,屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀,廣泛應用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析;是各類電鍍產品鍍層厚度測量的理想檢測工具。
詳細介紹
鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比,有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點;具有高生產力、高再現(xiàn)性,能有效控制產品質量,節(jié)約電鍍成本。
鍍層測厚儀X-Strata920工作特點:
儀器參數(shù)
型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
名稱 | 半自動 | 自動臺 | |||||
固定臺 | 單準直器加深臺 | 多準直器加深臺 | |||||
樣品圖片 |
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測量元素范圍 | Ti22---U92 | ||||||
鍍層和成分分析 |
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測量方法 |
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X射線激發(fā) |
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成像系統(tǒng) |
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計算機系統(tǒng) |
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樣品臺規(guī)格 |
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儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
Z軸 | 使用鼠標控制,程控移動距離43mm | ||||||
準直器規(guī)格 |
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探測器 | 正比例計數(shù)器 | ||||||
工作原理 | 對被測樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度,X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
安全性 |
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結果輸出 |
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